J. Lynn Davis将带来SSL器件
加速应力测试精彩报告

　　中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA)是中国地区最具国际影响力的半导体照明及智能照明行业年度盛会，也是业界最为关注的论坛之一。第十二届中国国际半导体照明论坛(SSLCHINA 2015)将于2015年11月2-4日在深圳会展中心举办，论坛紧扣时代发展脉搏与产业发展趋势，以“互联时代的LED+”为大会主题，探讨产业发展大势。

　　科技部副部长曹健林、国际照明协会主席Yoshi Ohno将分别担任本次大会的中、外方主席。目前开闭幕大会、技术分会等特邀嘉宾正在全球征集中。

　　据组委会最新消息，RTI International工程研究总监J. Lynn Davis博士将出席本届论坛，并在P203“可靠性与热管理”技术分会上发表“SSL器件加速应力测试案例研究”的精彩报告。

　　J. Lynn Davis博士表示，SSL器件是由发光二极管(LED)、光学元件、反光片、电子驱动及连接器等多个元件构成的复杂系统。为此类器件设计加速压力测试(AST)是试图在大幅度缩减时间框架下为照明系统元件创建现实失效模式的复杂项目。温度、湿度及电应力等一些环境压力因素会加速老化和降解过程。然而，每项压力因素对系统元件所产生的影响都不同，应对此加以了解并得出产品的可靠性和寿命信息。通过对环境压力条件和SSL器件进行综合研究，能够更深入理解SSL系统加速测试的优点与局限。

　　Davis博士在报告中将讨论SSL系统AST实验方法与结果，包括失效模式识别及与现实经验的关联。他将介绍SSL器件强加速应力测试(HAST)的结果以及该方法中潜在失效模式的启示和局限。

　　Davis博士还将介绍其他AST方法，例如高温运行寿命法(HTOL)及湿高温运行寿命法(WHTOL)等。有关上述测试方法对系统元件的影响，将重点关注LED、透镜及电子驱动等。

　　为突出AST的优势，Davis博士将等同的暖白光和冷白光产品进行对比，其中还包括检验LED封装方式(即，中功率与高功率LED)以及其他LED属性所产生的影响，如相关色温(CCT)对流明维持率和色点稳定性的影响。

　　J. Lynn Davis是RTI International的工程研究总监。他所带领的团队的研究领域主要涉及照明及空气过滤等方面的节能建筑产品，客户包括美国能源部、美国环境保护署及各类商业客户。Davis博士的团队曾荣获多个重要奖项，包括《研发杂志》的“R&D 100”奖、能源研究所的创新奖、美国能源部的研发成果奖等。

　　Davis博士是电气与电子工程师学会(IEEE)的资深会员，并曾因在纳米技术标准制定方面所做的工作而获得国际电工技术委员会(IEC)的“1906奖”。他曾发表50多篇技术论文，并获得45项左右的美国专利授权，涵盖节能与材料技术的多个方面。