电容器的损耗是由介质损耗和金属部分损耗组成。介质损耗是由介质本身决定，即由介质薄膜的性能--漏导引起的。当使用频率很低时，电容器的损耗主要由介质损耗决定。其值随频率上升而成反比下降，见图示：

　　（漏导：任何电介质都不是理想的绝缘体，在电场的作用下，总有一定的电流流过，这种电流很小，称作漏导电流或漏导。）

 

　　金属部分损耗，其公式为：tgδ=ωcR_s=2πfcR_s   (R为电容器等效串联电阻)，因而当使用频率很高时，金属部分损耗为主要损耗。R_s由电容器引出线电阻、极板电阻、极板与引出线之间连接引起的接触电阻总和。如果连接不好，接触电阻较大，那么电容器在高频情况下的损耗就很大。使得电容器在高频情况下使用，发热严重，导致损坏。因而使用频率较高时，必须用高频测试，剔除端面接触不良者。尽量消除使用时的潜在危险。而用低频1KHz就不能很好有效的剔除接触不良者，况且CBB类1KHz损耗指标为≤0.0003，数值偏小，有时测试仪表之间的误差可能达到0.0002。因而，建议对用在使用频率较高的灯上时，至少用10KHz测试，指标≤0.0010，更有把握。我公司在给上海迈特、上海光达、江苏百家丽、深圳垅运、恒耀电器、中山欧普这些生产灯和镇流器的厂家供货，都用10KHz检测，多年来，保证了它们完好无损的使用。

 

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　　电容的工作电压，在频率适宜的情况下，一般应不大于额定电压。而瞬时承受电压，即耐电压，按国际国内标准最大检测电压为2倍电压，重复进行耐电压试验对电容器有损伤，因而过高的耐电压超过介质薄膜的承受能力，会损伤介质对电容器也是不利的。经过我们多年的试验，这些潜在的危险，会减少其使用寿命。因而建议客户给出的电容器耐电压指标应不大于2倍。而且在这种情况下，电容器厂家为了更好保证客户使用，还要高于2倍进行内控，但这些余量我们也是靠增加介质厚度来保证的。如果客户就给大于2倍甚至3倍的指标，那我们仍要加严，这样无限制的加下去，对电容器是一种损害，对照明产品也是一种损害，即使当时生产、检测过程中没有体现出来，但是却为日后用户的使用埋下了隐患，这对电容器供应商、照明产品制造商和消费者三方来讲都是不利的，因为我们共同的目标就是满足消费者的使用。