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聚焦正在起草中的LED寿命预测的IEC规范[1]

2010-7-27  来源:中国照明网  作者:陈超中 施晓红 李为军 王晔  有134069人阅读

  本文介绍IEC TC34/SC34A 正在起草的LED 寿命预测的公共可用规范,包括来自LM-80 的光通维持的测量方法,以及利用平均加速因子预测LED 寿命的方法。本文还给出了LED 加速寿命试验的例子。

  摘 要:本文介绍IEC TC34/SC34A 正在起草的LED 寿命预测的公共可用规范,包括来自LM-80 的光通维持的测量方法,以及利用平均加速因子预测LED 寿命的方法。本文还给出了LED 加速寿命试验的例子。

  关键词:LED;LED 寿命;LED 寿命预测;LED 光通维持寿命

  Abstract: This paper mainly focuses on be in drafted IEC PAS document(publicly available
specification)of LED lifetime prediction by IEC TC34/SC34A, including measuring method
for lumen maintenance prediction from LM-80 and the application of mean acceleration factorto perform LED lifetime prediction. At the same time, further examples for accelerated LEDlifetime tests are provided.

  Keywords: LED; LED lifetime; LED lifetime prediction; LED lumen maintenance

  随着LED 技术的持续快速发展,特别材料、封装及热管理技术的提升,以高功率LED 为代表的半导体照明器件近年来得到飞速的发展。LED 光源的长寿命是其一大优势,然而,由于材料制造工艺、封装水平及应用的差异,不同制造商生成的LED 及其产品的光通维持性能可能存在巨大差异,目前国际上仍未形成公认的光通维持率的寿命预测标准方法,导致市场上LED 照明产品质量的混乱,不少制造商宣称的产品性能与实际效果存在较大偏差。这对当前LED 半导体固态照明的产业发展以及提升消费者的信心都是极为不利的。

  鉴于此,IEC TC 34(国际电工委员会灯和相关设备技术委员会)于2010 年6 月21 日至6 月24 日在芬兰首都赫尔辛基召开了LED 照明产品及相关标准制修订研讨会(LED Workshop),同时还召开了TC 34 各维护工作组会议,包括光源维护工作组会议(MT PRESCO)、灯头和灯座维护工作组会议(MT EPC
1/2/3/4)、灯用附件维护工作组会议(MT COMEX)和灯具维护工作组会议(MTLUMEX)。

  IEC TC 34 还于2010 年6 月28 日至7 月2 日在德国法兰克福召开DALI 控制装置及相关标准制修订研讨会(DALI Control Devices Workshop),同时还召开光源专家组会议(IEC SC 34A)、灯用附件专家组会议(IEC SC 34C COMEX)和灯具专家组会议(IEC SC 34D LUMEX)。

  笔者从会上获悉,IEC TC34/SC34A 正在起草《LED-光通维持的检测与预测》的公共可用规范。

  对于LED 产品,在进行经济的实际时间检测以外,经常声称寿命。因此,一个标准化的光通维持寿命预测的方法被公认为有迫切的市场需求。

 

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