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关于灯及镇流器中使用电容器性能的几点说明[1]

2008-6-17  来源:阜新欧亚电子有限公司  作者:丁文阁  有18822人阅读

电容器的损耗是由介质损耗和金属部分损耗组成。介质损耗是由介质本身决定,即由介质薄膜的性能--漏导引起的。当使用频率很低时,电容器的损耗主要由介质损耗决定。其值随频率上升而成反比下降,见图示:

  一、薄膜电容器的损耗与检测  
 
  电容器的损耗是由介质损耗和金属部分损耗组成。介质损耗是由介质本身决定,即由介质薄膜的性能--漏导引起的。当使用频率很低时,电容器的损耗主要由介质损耗决定。其值随频率上升而成反比下降,见图示:

  
  (漏导:任何电介质都不是理想的绝缘体,在电场的作用下,总有一定的电流流过,这种电流很小,称作漏导电流或漏导。)
 
  金属部分损耗,其公式为:tgδ=ωcRs=2πfcRs   (R为电容器等效串联电阻),因而当使用频率很高时,金属部分损耗为主要损耗。Rs由电容器引出线电阻、极板电阻、极板与引出线之间连接引起的接触电阻总和。如果连接不好,接触电阻较大,那么电容器在高频情况下的损耗就很大。使得电容器在高频情况下使用,发热严重,导致损坏。因而使用频率较高时,必须用高频测试,剔除端面接触不良者。尽量消除使用时的潜在危险。而用低频1KHz就不能很好有效的剔除接触不良者,况且CBB类1KHz损耗指标为≤0.0003,数值偏小,有时测试仪表之间的误差可能达到0.0002。因而,建议对用在使用频率较高的灯上时,至少用10KHz测试,指标≤0.0010,更有把握。我公司在给上海迈特、上海光达、江苏百家丽、深圳垅运、恒耀电器、中山欧普这些生产灯和镇流器的厂家供货,都用10KHz检测,多年来,保证了它们完好无损的使用。
 
  二、薄膜电容器的耐压与检测
 
  薄膜电容器介质的厚度是以其额定电压大小来选取的,即介质厚度决定额定电压的大小,其相关关系详见下表:
 
额定电压与介质厚度关系对照表:
额定电压
介质厚度
电容器结构特性
50/100V
3μm
不分压
250V
4.5μm
不分压
400V
6μm
不分压
630V
8μm
不分压
AC250/275V
8μm
不分压
1000/1250V
10-12μm
内串式分压
1600/2000V
14-16μm
内串式分压

  电容的工作电压,在频率适宜的情况下,一般应不大于额定电压。而瞬时承受电压,即耐电压,按国际国内标准最大检测电压为2倍电压,重复进行耐电压试验对电容器有损伤,因而过高的耐电压超过介质薄膜的承受能力,会损伤介质对电容器也是不利的。经过我们多年的试验,这些潜在的危险,会减少其使用寿命。因而建议客户给出的电容器耐电压指标应不大于2倍。而且在这种情况下,电容器厂家为了更好保证客户使用,还要高于2倍进行内控,但这些余量我们也是靠增加介质厚度来保证的。如果客户就给大于2倍甚至3倍的指标,那我们仍要加严,这样无限制的加下去,对电容器是一种损害,对照明产品也是一种损害,即使当时生产、检测过程中没有体现出来,但是却为日后用户的使用埋下了隐患,这对电容器供应商、照明产品制造商和消费者三方来讲都是不利的,因为我们共同的目标就是满足消费者的使用。
 
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