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产品详细说明
测量荧光粉及其它粉末材料的粒径分布。
性能指标:
◆ 采用激光散射理论,多元环形探测器列阵快速测量
◆ 粒径范围:1μm~100μm
◆ 采样时间:小于0.2秒
◆ 粒度参数:频度分布、累积分布、平均粒径等,D25、D50、D75
◆ RS-232C标准接口,方便与各种微机连接
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